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半導體-晶元表面粗糙度測量2022.06.21

技術挑戰為了制備合乎器件和集成電路制作要求的硅片表面,必須進行拋光,以去除殘留的損傷層并獲得一定厚度的高平整度的鏡面硅片。拋光分機械拋光、化學拋光、電子束拋光、離子束拋光,較普遍采用的是化學機械拋光。...

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【6月19日】父親節快樂2022.06.19

最好的風景在父親肩頭,最好的儀器在中翰儀器; 6.19 父親節快樂。

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Pentax 顯微三維成像相機SD1002022.06.17

Pentax 顯微三維成像相機SD100 直接獲取顯微三維影像并測量的智能相機, 升級您顯微鏡的觀察和分析能力!

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光刻用石英玻璃晶元粗糙度測量2022.06.15

用于半導體的石英玻璃表面非常光滑,其表面經過機器拋光及化學拋光處理。目前測量表面粗糙度常用的方法有比較法、光切法、干涉法、針描法和印模法等;這里我們介紹使用干涉方法測量粗糙度的方法。一般評價晶元表面粗糙度使用(GB/T 32189氮化稼單晶襯底表面粗糙度檢測方法),使用機器一般為原子力顯微鏡或干涉儀。

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無人機與雷達在道路規劃設計的應用2022.06.10

項目背景</h2>隨著經濟與社會的發展,公路勘察設計逐漸由二維向三維發展,在無人機輔助下的公路設計,解放了人力,大幅度提高了工作效率。但是在植被覆蓋率比較高的地方,高程獲取不是很準確,如果采用傳統測量,使...

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無人機機載Lidar地形測量-平涼靈臺項目2022.06.09

隨著無人機測繪技術的高速發展,無人機攝影測量技術和無人機機載雷達測量技術,都已經廣泛的應用各個領域。如地形圖測繪、電力巡檢、自然資源調查、礦山測量、地質災害調查、公路設計等。無人機載雷達技術是測繪行業最為重要的技術手段之一,具有效率高、精度高、能濾除植被等優點。傾斜攝影測量可以得到高分辨率的光學影像,可以很直觀的得到現場情況。但是在植被覆蓋率高的地方,局限性還是較大,無法夜間工作,且外業相控作業量也較大。激光雷達技術的發展正好彌補了傾斜攝影的弊端,不僅高效率、高精度,可以過濾掉不需要的地物,也可以夜間工作,不需要去現場采集大量像控點來提高精度。在道路設計施工方面運用,可以有效的剔除植被,提高精度,得到地表的高程信息。

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【應用案例】飛利浦光學公司使用尼康X射線和CT系統推動創新2022.06.09

位于比利時特恩豪特的飛利浦光學公司公司最近引進了尼康XTV計量系統的X射線和計算機斷層掃描檢查。工程師研究高強度放電(HID)燈原型的電極和其他部件,以推動燈的性能,壽命和生態材料使用的邊界。

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半導體-感光芯片平整度的測量應用2022.06.08

技術挑戰攝像頭感光芯片屬于半導體精密部件,通常不能使用接觸式測量;同時攝像頭感光芯片的平整程度影響了后期成像的質量,如果芯片平整度較差首先會影像后期的芯片貼合的密封性,其次若鏡頭的光軸與感光面不垂直,...

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010-62565779(總機)

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測量部:400-172-5117

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